華為申請(qǐng)Type-C接口防腐蝕專利：可降低發(fā)生電化學(xué)腐蝕幾率

原標(biāo)題：華為申請(qǐng)Type-C接口防腐蝕專利：可降低發(fā)生電化學(xué)腐蝕幾率

天眼查數(shù)據(jù)顯示，華為技術(shù)有限公司日前申請(qǐng)“一種終端及 Type C 接口防腐蝕方法”專利，該專利可降低Type C接口中CC引腳與其它引腳之間發(fā)生電化學(xué)腐蝕的幾率。

資料顯示，該專利技術(shù)在終端中，處理器分別與運(yùn)動(dòng)傳感器和接口芯片連接；接口芯片分別與處理器和第一Type C接口中的CC引腳連接；運(yùn)動(dòng)傳感器，用于監(jiān)測(cè)終端的運(yùn)動(dòng)狀態(tài)；處理器，用于根據(jù)運(yùn)動(dòng)傳感器監(jiān)測(cè)到的終端的運(yùn)動(dòng)狀態(tài)，在確定終端的運(yùn)動(dòng)狀態(tài)由移動(dòng)狀態(tài)進(jìn)入靜止?fàn)顟B(tài)時(shí)，控制接口芯片將第一Type C接口的CC引腳配置為低電平模式。由移動(dòng)狀態(tài)進(jìn)入靜止?fàn)顟B(tài)反應(yīng)出終端與外接設(shè)備斷開(kāi)連接，在此情況下將CC引腳配置為低電平模式，可以降低CC引腳的有效電平，進(jìn)而降低CC引腳與其它引腳之間發(fā)生電化學(xué)腐蝕的幾率。（完）

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